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溫沖應力篩選試驗箱

溫沖應力篩選試驗箱

簡要描述:溫沖應力篩選試驗箱對不同電子構件,在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產生非使用狀態(tài)的破壞試驗。

所屬分類:溫度沖擊應力篩選試驗箱

更新時間:2024-05-23

廠商性質:生產廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產地類別國產
應用領域能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣

溫沖應力篩選試驗箱賽思改變了傳統(tǒng)進行溫度循環(huán)、高低溫沖擊(2箱)、高低溫+常溫沖擊(3 箱)、應力篩選ESS,至少需要購買四臺設備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設備才能完成的試驗,需耗費許多添購設備占用空間的硬件成本, 一次解決您的需求,滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性,提高機臺使用的稼動率。并且不需再依不同待測品去耗費時間手動調整,我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動幫您搞定,賽思秉持著符合規(guī)范的原則,結合貼心的創(chuàng)新功能與技術,期待您詳細了解。

溫沖應力篩選試驗箱特點:

1.可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能;2.等均溫速率可設定范圍5℃~30℃/min(40℃/min);3.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求;4.采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行;5.除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成;6.通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能;7.感測器放置測試區(qū)出(回)風口符合實驗有效性;8.機臺多處報警監(jiān)測,配置無線遠程報警功能;

標準:滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。

產品&規(guī)范

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

循環(huán)時間

備注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90
電子產品應力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16
電子設備環(huán)境應力篩選

設備或系統(tǒng)

71℃

-54℃

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19
電子設備環(huán)境應力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度10℃時

NABMAT-9492
美軍制造篩選

設備或系統(tǒng)

55℃

-53℃

15℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度5℃時

GJB/Z34-5.1.6
電子產品定量環(huán)境應力篩選指南

組件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25

——

達到溫度穩(wěn)定的時間

GJB/Z34-5.1.6
電子產品定量環(huán)境應力篩選指南

設備或系統(tǒng)

70℃

-55℃

5℃/min

≧10

——

達到溫度穩(wěn)定的時間

筆記本電腦

主板廠商

85℃

-40℃

15℃/min

——

——

——

 

應力范圍:

TSR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

 

30℃/min→

電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

24℃/min→

光纖連接頭

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)

11℃/min→

無鉛CSP產品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試

5℃/min→

 

錫須溫度循環(huán)試驗

技術規(guī)格:

型號

SER-A

SER-B

SER-C

SER-D

內箱尺寸
W x D x H cm

40×35×35

50×50×40

60×50×50

70×60×60

外箱尺寸
W x D x H cm

140×165×165

150×200×175

160×225×185

170×260×193

溫度范圍

-80.00℃~+200.00℃

低溫沖擊范圍

-10.00℃~-40℃//-55℃//-65.00℃

高溫沖擊范圍

+60.00℃~+150.00℃

時間設定范圍

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

溫度波動度

≤1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

溫度偏差

≤±2℃(-65℃~+150℃)

溫度均勻度

<2.00℃以內

溫變速率(斜率)

+5℃~+30℃/min(+40℃)

溫變范圍

-55℃~+85℃//+125℃



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